Término solicitado: WIESENDANGER, R.^RED./(22)
2 Registro/s encontrado/s en CAT+NORMA
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Scanning probe microscopy ; analytical methods |
| Autor: | Wiesendanger, R.. ed. |
| Título Ser./Col.: | Nanoscience and technology |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Berlin, DE; New York. US. Springer Verlag. 1998. |
| Pág./Vol.: | 216p. |
| Descriptores: | Microscopios electrónicos; Microscopía electrónica de barrido; Electrones; Instrumentos ópticos; Métodos ópticos; Semiconductores; Superficies; Moléculas; Atomos; Propiedades; Elasticidad; Métodos ópticos; Termoelectricidad; Voltaje; Electrodos; Fotoelectricidad; Fotones; Lasers; Procesamiento óptico |
| Ubicación: | CIEPS/103 |
| Disponibilidad: | CIEPS |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Scanning tunneling microscopy III; theory of STM and related scanning probe methods |
| Autor: | Wiesendanger, R.. ed.; Güntherodt, H.J.. ed. |
| Título Ser./Col.: | Surface sciences, 29 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 2.ed.. Berlin, DE; New York. US. Springer Verlag. 1996. |
| Pág./Vol.: | 402p. |
| Descriptores: | Microscopios electrónicos; Microscopía electrónica de barrido; Electrones; Instrumentos ópticos; Métodos ópticos; Microscopía electrónica; Análisis microscópico; Procesamiento óptico; Espectroscopía; Superficies; Simulación; Imágenes; Luz; Emisión; Teoría cuántica |
| Ubicación: | CIEPS/102 |
| Disponibilidad: | CIEPS |
Fin
[Página de Inicio] [Nueva Búsqueda][Página Anterior]